Kursplan för
Analys på nanoskalan
Materials Analysis at the Nanoscale
KOO105, 7,5 högskolepoäng, G2 (Grundnivå, fördjupad)
Gäller för: Läsåret 2015/16
Beslutad av: Utbildningsnämnd C
Beslutsdatum: 2015-04-20
Allmänna uppgifter
Huvudområde: Teknik.
Huvudområde: Nanovetenskap.
Obligatorisk för: N3
Valfri för: K4-m
Undervisningsspråk: Kursen ges på engelska
Syfte
- Att studenten skaffar sig en aktiv kunskapsbas vad det gäller
tillgängliga metoder för struktur- och elementanalys på
nanometerskala
- Att studenten förstår de förlopp som ligger bakom de olika
analysmetoderna
Mål
Kunskap och förståelse
För godkänd kurs skall studenten
utnyttja sina kunskaper om elektronstruktur för att kunna
förutsäga egenskaper som röntgenemission, Augerelektronemission
och sekundärelektronemission.
- förstå elastisk och inelastisk spridning av elektroner i
fasta material.
- förstå principer bakom avbildning med mikroskopmetoder
- förstå elektron- och ljusindicerade fenomen på ytor och vad
det leder till i form av emission och reflektion.
Färdighet och förmåga
För godkänd kurs skall studenten
- kunna tillämpa sina kunskaper för att välja en lämplig
analysmetod för ett visst materialproblem.
- kunna analysera bilder och spektra från olika typer av
material, både kvalitativt och kvantitativt.
Värderingsförmåga och förhållningssätt
För godkänd kurs skall studenten
- kunna utvärdera noggrannhet och precision hos olika
analysmetoder.
- kunna förklara eventuella artefakter och felkällor.
Kursinnehåll
- Elastisk och inelastisk spridning
- Elektromagnetiska linser
- Principer och funktion hos olika typer av elektron- och
svepprobsmikroskop
- Spektrometrar för elementanalys: Energidispersiv
röntgenspektrometer XEDS Elektronenergiförlustspektrometer
(EELS)
- Identifiering och kvantifiering av spektra
- Metoder för ytanalys. Augerspektroskopi.
Svepprobsmikroskopi.
Kursens examination
Betygsskala: TH
Prestationsbedömning: Skriftlig tentamen. Skriftlig deltentamen efter ca 4 veckor, som ger ett tillskott vid godkänd huvudtentamen. Tentamensresultat tillsammans med tillskott från deltentamen ger slutbetyg.
Antagningsuppgifter
Förkunskapskrav:
Förutsatta förkunskaper: År 1-2 av Teknisk Nanovetenskap eller år 1-2 av Kemiteknik.
Begränsat antal platser: Nej
Kurslitteratur
- DB Williams and BC Carter: Transmission Electron Microscopy. Springer, 2009, ISBN: 978-0-387-76501-3 (e-book), 9780387765020 (print).
- G Attard and C Barnes: Surfaces. Oxford University Press, 1998, ISBN: 0-19-855686-1.
Kontaktinfo och övrigt
Kursansvarig: Kimberly Dick Thelander, kimberly.thelander@ftf.lth.se
Kursansvarig: Anders Mikkelsen, anders.mikkelsen@sljus.lu.se
Hemsida: http://www.polymat.lth.se