Analys på nanoskalan
Materials Analysis at the Nanoscale

KASF15, 7.5 högskolepoäng, G2 (Grundnivå, fördjupad)

Gäller för: 2025/26
Fakultet: Lunds tekniska högskola
Beslutad av: Programledning B/K
Beslutsdatum: 2025-04-07
Ikraftträdande: 2025-05-05

Allmänna uppgifter

Huvudområde: Teknik Fördjupning: Grundnivå, kurs/er som inte kan klassificeras
Huvudområde: Nanovetenskap Fördjupning: Grundnivå, kurs/er som inte kan klassificeras
Obligatorisk för: MNAV1, N2, N3
Valfri för: K4-m
Undervisningsspråk: Kursen ges på engelska

Syfte

• Att studenten skaffar sig en aktiv kunskapsbas vad det gäller tillgängliga metoder för struktur- och elementanalys på nanometerskala
• Att studenten förstår de förlopp som ligger bakom de olika analysmetoderna

Mål

Kunskap och förståelse
För godkänd kurs skall studenten

• utnyttja sina kunskaper om elektronstruktur för att kunna förutsäga egenskaper som röntgenemission, Augerelektronemission och sekundärelektronemission.
• förstå elastisk och inelastisk spridning i fasta material.
• förstå principer bakom avbildning med mikroskopmetoder
• förstå elektron- och fotonindicerade fenomen i material och på ytor och vad det leder till i form av emission och reflektion.

Färdighet och förmåga
För godkänd kurs skall studenten

• kunna tillämpa sina kunskaper för att välja en lämplig analysmetod för ett visst materialproblem.
• kunna analysera bilder och spektra från olika typer av material, både kvalitativt och kvantitativt.

Värderingsförmåga och förhållningssätt
För godkänd kurs skall studenten

• kunna utvärdera noggrannhet och precision hos olika analysmetoder.
• kunna förklara eventuella artefakter och felkällor.

Kursinnehåll

• Översikt över analysmetoder för fasta material.
• Elastisk och inelastisk spridning
• Identifiering av faser genom morfologi, kemisk sammansättning, elektrondiffraktion och mikroskopi.
• Principer och funktion hos olika typer av mikroskop
• Spektroskopi för elementanalys
• Identifiering och kvantifiering av spektra
• Metoder för ytanalys. Augerspektroskopi. Svepprobsmikroskopi.

Kursens examination

Betygsskala: TH - (U, 3, 4, 5) - (Underkänd, Tre, Fyra, Fem)
Prestationsbedömning:

Skriftlig tentamen. Skriftlig deltentamen efter ca 4 veckor, som ger ett tillskott vid godkänd huvudtentamen. Tentamensresultat tillsammans med tillskott från deltentamen ger slutbetyg.

Om så krävs för att en student med varaktig funktionsnedsättning ska ges ett likvärdigt examinationsalternativ jämfört med en student utan funktionsnedsättning, så kan examinator efter samråd med universitetets avdelning för pedagogiskt stöd fatta beslut om alternativ examinationsform för berörd student.

Moduler
Kod: 0117. Benämning: Nanoanalys.
Antal högskolepoäng: 7.5. Betygsskala: TH - (U, 3, 4, 5).

Antagningsuppgifter

Begränsat antal platser: Nej
Kursen överlappar följande kurser: KOO105

Kurslitteratur

• DB Williams and BC Carter: Transmission Electron Microscopy. Springer, 2009, ISBN: 978-0-387-76501-3 (e-book), 9780387765020 (print). The e-book is available for free download from Springer.com within the LU network. The print book is identical and also acceptable as literature for the course.
• G Attard and C Barnes: Surfaces. Oxford University Press, 1998, ISBN: 0-19-855686-1.

Kontaktinfo

Kursansvarig: Kimberly Dick Thelander, kimberly.thelander@ftf.lth.se
Kursansvarig: Rainer Timm, rainer.timm@sljus.lu.se
Kursansvarig: Reine Wallenberg, reine.wallenberg@chem.lu.se
Lärare: Karen Edler, karen.edler@chem.lu.se

Övrig information

Kursen bygger på självständigt arbete. Användning av generativ artificiell intelligens (GAI) är tillåtet för självstudier men får inte användas vid examinerande aktiviteter såsom laborationsrapporter, inlämningsuppgifter, duggor och tentamen.