Antal poäng: 5. Betygskala: TH. Obligatorisk för: N3. Kursansvarig: Prof. Reine Wallenberg reine.wallenberg@materialkemi.lth.se och Jesper Andersen Jesper_N.Andersen@sljus.lu.se, Materialkemi. Rekommenderade förkunskaper: Kemi motsv åk 1–2 på kemiteknikprogrammet. eller åk1-2 på Teknisk nanovetenskap. Prestationsbedömning: Skriftlig tentamen. Övrigt: Kursen ges på begäran på engelska. Hemsida: http://www.teknisknanovetenskap.lth.se.

Mål
Kunskapsmål
Kursen skall ge en översikt av metoder för analys av kemisk sammansättning och struktur på nanometerskala. Studenten kommer även att ges grundläggande teoretiska kunskaper om funktionen och konstruktionen av analysverktygen. Vanliga felkällor och misstolkningar.

Färdighetsmål
Efter kursen skall studenten kunna välja analysmetod efter vilket problem som skall angripas. Förståelse av processen som ger upphov till den signal som används vid analysen.

Attitydmål
Studenten skall kunna göra en kritisk granskning och bedömning av trovärdighet och noggrannhet hos olika metoder.

Innehåll
Elektronmikroskopet som analysinstrument. Ytanalystekniker. Identifiering av faser med hjälp av morfologi, elektrondiffraktion och högupplösande avbildning. Tredimensionell avbildning av mjuka och fasta material. Svepelektronmikroskopet. Sveptunnelmikroskopi. AFM. STM. LEED. XPS. Ytröntgen. AES. Enkel provpreparering för biologiska och fasta prov. Energifiltrering av bilder för elementanalys och brusreducering. Mikroskopisk kartläggning av grundämnens förekomst i bio- och oorganiska prov genom analys av utsänd strålning (EDS) och energiförlust hos elektroner (EELS). Kvantifiering av EDS spektra. Synkrotronljusbaserad analys.

Litteratur
David B.Williams and Barry C.Carter: Transmission electron microscopy – a textbook for materials science. Plenum Press (1996) ISBN 0-306-45324-X.
D.P. Woodruff and T.A. Delchar: Modern techniques of surface science. Paperback. ISBN-10: 0521424984 / ISBN-13: 9780521424981
Utdelade kompendium.