Kursplan för

Svepspetsmikroskopi
Scanning Probe Microscopy

FAFN30, 7,5 högskolepoäng, A (Avancerad nivå)

Gäller för: Läsåret 2019/20
Beslutad av: Programledning F/Pi
Beslutsdatum: 2019-03-26

Allmänna uppgifter

Huvudområde: Nanovetenskap.
Valfri för: F4, N4-nf
Undervisningsspråk: Kursen ges på engelska

Syfte

Kursen behandlar området extremt högupplösande mikroskopering med användande av svepspetsmetoder. Dessa tekniker har idag fått vitt spridda användningsområden från avancerad fysik och kemi med atomär precision till biologiska tillämpningar såsom studier av enskilda celler och virus. Kursen behandlar både bakomliggande teori och praktiska aspekter på handhavande samt möjliga användningsområden av svepspetsmikroskopi. Speciell tonvikt kommer att läggas på STM (eng. Scanning Tunneling Microscopy) och AFM (eng. Atomic Force Microscopy).

Mål

Kunskap och förståelse
För godkänd kurs skall studenten

Färdighet och förmåga
För godkänd kurs skall studenten

Kursinnehåll

Introduktion till svepspetsmikroskopi. Instrumentering: positionsstyrning av prov och spets, datainsamling och elektronik, ultrahögvakuum, vibrationsdämpning. Sveptunnelmikroskopi: princip och användning, metoder för avbildning och spektroskopi, kemiska och strukturella kontrastmekanismer, prov- och spetstillverkning, atomär upplösning av metaller och halvledare. Atomkraftmikroskopi: princip och användning, metoder för avbildning, kraftkurvor. Optisk svepspetsmikroskopi: princip och användning. Exempel på mera avancerade svepspetsmikroskopitekniker och kombinerade metoder. Användning av metoder för svepspetsmikroskopi i fasta tillståndets fysik, kemi och nanoteknik.

Kursens examination

Betygsskala: TH - (U,3,4,5) - (Underkänd, Tre, Fyra, Fem)
Prestationsbedömning: För att bli godkänd på kursen krävs godkända inlämningsuppgifter, godkänt projektarbete och muntlig tentamen. Projektarbetet redovisas skriftligt och presenteras muntligt vid ett seminarium. Betyget baseras på en sammanvägning av inlämningsuppgifter (20%), projektrapport och seminariepresentation (30%) och muntlig tentamen (50 %).

Om så krävs för att en student med varaktig funktionsnedsättning ska ges ett likvärdigt examinationsalternativ jämfört med en student utan funktionsnedsättning, så kan examinator efter samråd med universitetets avdelning för pedagogiskt stöd fatta beslut om alternativ examinationsform för berörd student.

Antagningsuppgifter

Förutsatta förkunskaper: FFFF05 Fasta tillståndets fysik eller FFFF01 Elektroniska material.
Begränsat antal platser: 30
Urvalskriterier: 1. Inriktningen av påbörjat examensarbete. 2. Avklarade högskolepoäng inom programmet. 3. Erhållna betyg på kurser inom programmet där slutbetyg erhållits. Förtur ges till studenter vars program har kursen listad i läro- och timplanen.
Kursen överlappar följande kurser: FAF085

Kurslitteratur

Kontaktinfo och övrigt

Kursansvarig: Jan Knudsen, jan.knudsen@sljus.lu.se
Kursansvarig: Rainer Timm, rainer.timm@sljus.lu.se
Hemsida: http://ww2.sljus.lu.se/staff/rainer/SPM.htm