Antal högskolepoäng: 7,5. Betygsskala: TH. Nivå: G2 (Grundnivå, fördjupad). Huvudområde: Teknik. Undervisningsspråk: Kursen kan komma att ges på engelska. Obligatorisk för: MNAV1, N3. Valfri för: K4m. Kursansvarig: Prof. Reine Wallenberg, reine.wallenberg@polymat.lth.se och Doc. Anders Mikkelsen, anders.mikkelsen@sljus.lu.se, Materialkemi. Förkunskapskrav: Allmän och oorganisk kemi KOKA01 och Organisk kemi KOKA05 eller Grundläggande kemi KOO101. Förutsatta förkunskaper: År 1-2 av Teknisk Nanovetenskap. Prestationsbedömning: Skriftlig deltentamen efter ca 5 veckor, som ger ett tillskott på upp till 0.3 betygsgrader vid godkänd huvudtentamen Skriftlig tentamen. Tentamensresultat tillsammans med tillskott från deltentamen ger slutbetyg. Övrigt: FÖRSLAG TILL ÄNDRING: Kursen görs valbar(?) för studenter på kemiteknik. Kursen är fortfarande obligatorisk för Teknisk Kursen är förkunskapsgrund för kursen KOO 065 Mikroskopisk karakterisering (7.5 hp). Hemsida: http://www.polymat.lth.se.

Syfte

• Att studenten skaffar sig en aktiv kunskapsbas vad det gäller tillgängliga metoder för elementanalys på nanometerskala

• Att studenten förstår de förlopp som ligger bakom de olika analysmetoderna

Mål

Kunskap och förståelse
För godkänd kurs skall studenten

• utnyttja sina kunskaper om elektronstruktur för att kunna förutsäga egenskaper som röntgenemission, Augerelektronemission och sekundärelektronemission.

• förstå elastisk och inelastisk spridning av elektroner i fasta material.

• förstå principer bakom avbildning med mikroskopmetoder

• förstå elektron- och ljusindicerade fenomen på ytor och vad det leder till i form av emission och reflektion.

Färdighet och förmåga
För godkänd kurs skall studenten

• kunna planera lämplig preparationsmetod för olika typer av material.

• kunna tillämpa sina kunskaper för att välja en lämplig analysmetod för ett visst materialproblem.

• kunna analysera bilder och spektra från olika typer av material, både kvalitativt och kvantitativt.

Värderingsförmåga och förhållningssätt
För godkänd kurs skall studenten

• kunna utvärdera noggrannhet och precision hos olika analysmetoder.

• kunna förklara eventuella artefakter och felkällor.

Innehåll

• Elastisk och inelastisk spridning

• Elektromagnetiska linser

• Principer och funktion hos olika typer av elektron- och svepprobsmikroskop

• Spektrometrar för elementanalys. Energidispersiv röntgenspektrometer XEDS Elektronenergiförlustspektrometer (EELS)

• Identifiering och kvantifiering av spektra

• Metoder för ytanalys. Augerspektroskopi. Svepprobsmikroskopi.

• Biologisk provpreparering och avbildningstekniker.

Litteratur
Williams, D B och Carter, B C: Transmission electron microscopy – a textbook for materials science, 2nd edition. Springer 2009. ISBN: 978-0-387-76502-0; e-ISBN: 978-0-387-76501-3.
Attard, G och Barnes, C: Surfaces: Oxford Chemistry Primer no. 59. Oxford University Press 1998. ISBN 0-19-855686-1.
Material utlagt på kursens hemsida.