Kursplan för läsåret 2007/2008
SVEPSPETSMIKROSKOPIFAF085
Scanning Probe Microscopy

Antal högskolepoäng: 7,5. Betygskala: TH. Nivå: A (Avancerad nivå). Undervisningsspråk: Kursen kan komma att ges på engelska. Valfri för: F4, F4nfe, N4, N4nf. Kursansvarig: Fil. Dr. Mikael K.-J. Johansson, mikael.johansson@ftf.lth.se, Fysik, kurslaboratoriet. Förutsatta förkunskaper: FFF100 Termodynamik och elektroniska material och FAF240 Kvantfenomen och nanoteknologi eller motsvarande. Kan ställas in: Vid mindre än 6 anmälda. Begränsat antal platser: Ja. Urvalskriterier: 1. Inriktningen av påbörjat examensarbete. 2. Antal poäng som har uppnåtts eller tillgodoräknats på programmet. 3. Erhållna betyg på kurser inomprogrammet där slutbetyg erhållits. Prestationsbedömning: För att bli godkänd på kursen krävs godkända laborationer och godkänt projektarbete. Projektarbetet redovisas skriftligt och presenteras muntligt vid ett seminarium. Betyget sättes baserat på en sammanvägning av laborationer (30%) och projektarbetet (70 %). Hemsida: http://www.ftf.lth.se/FTF/person/JohanssonM/kurser/TNF080/TNF080.html.

Syfte
Kursen behandlar det mycket spännande området av extremt högupplösande mikroskopering med användande av svepspetsmetoder. Dessa tekniker har idag fått vitt spridda användningsområden från avancerad fysik och kemi med atomär precision till biologiska tillämpningar såsom studier av enskilda celler och virus. Kursen behandlar både bakomliggande teori och praktiska aspekter på handhavande samt möjliga användningsområden av svepspetsmikroskopi. Speciell tonvikt kommer att läggas på STM (eng. Scanning Tunneling Microscopy) och AFM (eng. Atomic Force Microscopy).

Mål

Kunskap och förståelse
För godkänd kurs skall studenten

Färdighet och förmåga
För godkänd kurs skall studenten

Innehåll
Introduktion till svepspetsmikroskopi. Instrumentering; Datainsamling/styrelektronik, koncept för vibrationsisolering och anordningar för positionering. STM: Princip och praktiska tillämpningar, metoder för avbildning, tunnelspektroskopi, samt spets- och prov- preparering. AFM: Princip och praktiska tillämpningar, metoder för avbildning, kraftkurvor, samt prob- och prov- preparering. Övriga SPM metoder: Principer och praktiska tillämpningar. Tillämpningar av SPM inom fysik, kemi, biologi samt nanoteknologi. Databehandling och tolkning av mätdata. Sensorer baserade på SPM metoder.

Litteratur
E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz; "Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip"
(Springer 2003, ISBN 3540431802 hbk).